摘要:信息系統(tǒng)管理工程師是軟考中級(jí)考試科目之一,為方便考生對(duì)所學(xué)知識(shí)點(diǎn)的檢測(cè),希賽軟考頻道為考生帶來(lái)軟考信息系統(tǒng)管理工程師考試知識(shí)點(diǎn)填空檢測(cè)的內(nèi)容,本文為軟考信息系統(tǒng)管理工程師考試知識(shí)點(diǎn)填空檢測(cè)(14)。
為方便軟考考生對(duì)信息系統(tǒng)管理工程師考試知識(shí)點(diǎn)的檢測(cè),希賽軟考頻道為考生帶來(lái)軟考信息系統(tǒng)管理工程師考試知識(shí)點(diǎn)填空檢測(cè)的內(nèi)容(完整版可在本文文首本文資料處或文末的資料下載欄目下載)。
軟考信息系統(tǒng)管理工程師考試知識(shí)點(diǎn)填空檢測(cè)(14)內(nèi)容如下:
第十四章 信息系統(tǒng)實(shí)施
1.注釋包括_______注釋和_______注釋。_______注釋在每個(gè)程序或模塊的開(kāi)頭的一段說(shuō)明,起對(duì)程序理解的作用。_______注釋一般嵌在程序之中,與要注釋的部分匹配。
2._______是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程。
3._______的目標(biāo)是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程、好的測(cè)試方案能夠發(fā)現(xiàn)迄今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤、成功的測(cè)試將發(fā)現(xiàn)至今尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤。
4.基本的測(cè)試活動(dòng)包括:_______、_______、_______、_______、_______。
5._______又稱(chēng)模塊測(cè)試,是通過(guò)對(duì)每個(gè)最小的軟件模塊進(jìn)行測(cè)試,對(duì)照模塊的功能說(shuō)明,檢查各個(gè)程序模塊是否正確地實(shí)現(xiàn)了規(guī)定的功能,確保其能正常工作。由開(kāi)發(fā)人員進(jìn)行,測(cè)試的主要內(nèi)容包括模塊接口測(cè)試、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試、路徑測(cè)試、錯(cuò)誤處理測(cè)試、邊界測(cè)試。
6._______在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上,需要將所有模塊按照概要設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)和詳細(xì)設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)的要求進(jìn)行組裝。主要目的是驗(yàn)證組成軟件系統(tǒng)的各模塊的接口和交換作用。
7.模塊的組裝方式有_______、_______、自底向上的增殖方式、混合增殖方式。
8._______又稱(chēng)合格性測(cè)試,用來(lái)檢驗(yàn)軟件是否符合用戶(hù)的需求。
9._______將軟件與整個(gè)系統(tǒng)的硬件、外設(shè)、支持軟件、數(shù)據(jù)和人員等結(jié)合起來(lái),以需求規(guī)格說(shuō)明為依據(jù),在實(shí)際運(yùn)行環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。檢驗(yàn)其是否有不符合系統(tǒng)說(shuō)明書(shū)的地方。
10._______在測(cè)試組的協(xié)調(diào)下,由用戶(hù)代表進(jìn)行。
11._______根據(jù)內(nèi)部結(jié)構(gòu)和邏輯來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例,對(duì)程序路徑和過(guò)程進(jìn)行測(cè)試。
12._______覆蓋(SC):設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得被測(cè)試程序中每條語(yǔ)句至少執(zhí)行一次。
13._______覆蓋(DC):設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得程序中的每個(gè)判定至少都獲得一次“真值”或“假值”。又稱(chēng)分支覆蓋:使程序中的每一個(gè)取“真”分支和取“假”分支至少經(jīng)歷一次。
14._______覆蓋(CC):設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得每一判定語(yǔ)句中每個(gè)邏輯條件的可能值至少滿(mǎn)足一次。
15._______覆蓋(CDC):設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得判定中每個(gè)條件的所有可能(真/假)至少出現(xiàn)一次,并且每個(gè)判定本身的結(jié)果(真/假)也至少出現(xiàn)一次。
16._______覆蓋(MCC):設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得每個(gè)判定中條件的各種可能組合都至少出現(xiàn)一次。
17._______覆蓋:設(shè)計(jì)足夠的測(cè)試用例,使得被測(cè)試程序中的所有可能路徑至少被執(zhí)行一次。
18._______測(cè)試基于產(chǎn)品功能規(guī)格說(shuō)明書(shū),從用戶(hù)角度針對(duì)產(chǎn)品特定的功能和特性進(jìn)行驗(yàn)證活動(dòng),確認(rèn)每個(gè)功能是否得到完整實(shí)現(xiàn),用戶(hù)能否正常使用這些功能。_______測(cè)試在不知道系統(tǒng)或組件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下進(jìn)行,不考慮內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu),著眼于程序外部結(jié)構(gòu),在軟件接口處進(jìn)行測(cè)試。
19._______試圖發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤:功能不正確或遺漏、界面錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)庫(kù)訪(fǎng)問(wèn)錯(cuò)誤、性能錯(cuò)誤、初始化和終止錯(cuò)誤等。
20._______的方法包括:等價(jià)類(lèi)劃分法、邊界值分析法、因果圖法、判定表驅(qū)動(dòng)法、正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)法、錯(cuò)誤推法、功能圖法。
21.排錯(cuò)調(diào)試的方法包括:_______、_______、_______、_______、_______。
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